采用基于隐空间特征编辑对抗网络的深度弱监督学习算法，对小墨量、大墨量、紧凑布局和低放大率四类喷印基板中进行测试，平均检出率为98.2%，平均过检率为1.5%，其中大墨量类喷印基板的检出率达到99.2%，过检率达到1.4%，单张图像（256×256分辨率）推理时间为0.02s。